| 開催日程 | 2027年1月29日(金) 13:00〜17:00 (受付開始12:30) |
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| 対象 |
・日常業務において不確かさにかかわりのある方 ・製品試験の評価を実施する方や製造ライン管理者等 ・校正機関や試験所における技術者または技術管理者 ※高校数学程度の微分積分について知識がある方を対象としています。 |
| 概要 | 計測では「不確かさ」が用いられますが、日々の測定や試験においても「不確かさ」を活用することは非常に重要です。本セミナーでは、不確かさの第一人者である、国立研究開発法人産業技術総合研究所の田中 秀幸氏が、統計と測定の関連性を踏まえた統計の基本事項や、合否判定のリスクを考慮した許容差と不確かさの関係について、国際的な最新動向とともに解説します。 |
| プログラム | 1. 統計の基礎的事項について ・統計から見た測定とは？ ・離散分布の期待値について ・連続分布への拡張 ・ばらつきを表すパラメータ ・母分散と標本分散 ・正規分布について ・例題 2. 許容差と不確かさの関係 ※プログラムは多少変更となる場合がございます。 |
| 講師 | 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター 田中 秀幸 氏 |
| 会場 | JR神田万世橋ビル 17階(JQA本部 会議室) 【所在地】東京都千代田区神田須田町1-25 セミナー会場ページ |
| 参加費（税込） | 29,700円 |
| 定員 | 15名 |
| 残席 | ◯ ※○：余裕あり△：残席わずか |
| 備考 |
※本セミナーは、WEBでの配信も同時に行います。 ＜受講証について＞ ・セミナー終了後、アンケートに回答いただいた方には受講証PDFをお送りいたします。 |
