【上級】測定の不確かさと合否判定におけるリスク評価

セミナー詳細

開催日程 2026年1月23日(金) 13:00〜17:00 (受付開始 12:30)
対象 ・日常業務において不確かさにかかわりのある方
・製品試験の評価を実施する方や製造ライン管理者等
・校正機関や試験所における技術者または技術管理者
 ※高校数学程度の微分積分について知識がある方を対象としています。
概要 計測では「不確かさ」が用いられますが、日常業務においても「不確かさ」を活用することは非常に重要です。本セミナーでは、不確かさの第一人者である、国立研究開発法人産業技術総合研究所の城野 克広 氏を講師としてお招きし、統計と測定の関連性を踏まえた統計の基本的事項と、合否判定のリスクを考慮した許容差と不確かさの関係について、国際的な最新情報とともに解説していただきます。
プログラム 1.統計の基礎的事項について
  ・統計から見た測定とは?
  ・離散分布の期待値について
  ・連続分布への拡張
  ・ばらつきを表すパラメータ
  ・母分散と標本分散
  ・正規分布について
  ・例題
2.許容差と不確かさの関係

※プログラムは多少変更となる場合がございます。
講師 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター
城野 克広 氏
会場 JR神田万世橋ビル 17階(JQA本部 会議室)
【所在地】東京都千代田区神田須田町1-25
セミナー会場ページ
参加費(税込) 19,800

定員 15
残席
※○:余裕あり△:残席わずか
備考 ※本セミナーは、WEBでの配信も同時に行います。

<修了証について>
セミナー終了後、アンケートに回答いただいた方には修了証PDFをお送りいたします。